• BRUKER EDS System
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BRUKER EDS System

BRUKER EDS System

安裝在SEM(電子顯微鏡)上對樣品表面成份分析的設備,主要利用電子束所激發的特性X光來進行待測樣品的定性或定量化學成份分析。
矽遷移能量散佈質譜偵測器:

  SDD(Silicon Drift Detector)LN free(免加液態氮)

  能量解析度:Mn Kα ≤ 129 eV

  偵測器工作面積:30mm2

  元素偵測範圍:B(5)~Am(95)

  Elemental Mapping & Line Scan

  Support PC with OS Windows system.