鍍層測厚儀

Jing Teng Tech Limited Company
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多導毛細管聚焦光譜儀XTD-200 PCF

運用先進的技術進行基礎開發設計,
緊湊型結構設計,X射線管、樣品、探測器之間更加精細緊密,大大提高信號強度。

ROHS及鍍層多用途螢光測量儀

XAU系列全系可選擇 ROHS專用, 鍍層測量專用或混搭使用
採用SDD大面積探測器測值穩定操作容易

鍍層測厚儀XAD系列

全系標配SPIN或SDD大面積探測器 最小膜厚測量面積可達0.008mm , 高階機型可選配ROHS測試功能

鍍層膜厚計XTD系列

XTD系列測厚儀,專用於檢測各種異形件,特別是五金類模具、衛浴產品、線路板以及高精密電子元器件表面處理的成分和厚度分析。

鍍層膜厚計 XTU系列

XTU系列測厚儀雖然結構緊湊,但是都有大容量的開槽設計樣品腔,即使超過樣品腔尺寸的工件也可以測試。