BRUKER EDS System

SEC掃描式電子顯微鏡

安裝在SEM(電子顯微鏡)上對樣品表面成份分析的設備,主要利用電子束所激發的特性X光來進行待測樣品的定性或定量化學成份分析。


Main Function:

  • 矽遷移能量散佈質譜偵測器:

          SDD(Silicon Drift Detector)LN free(免加液態氮)

  • 能量解析度:Mn Kα ≤ 129 eV
  • 偵測器工作面積:30mm2
  • 元素偵測範圍:B(5)~Am(95)
  • Elemental Mapping & Line Scan

          Support PC with OS Windows system.