SEM掃描式電子顯微鏡

Jing Teng Tech Limited Company
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SNE-4500M PLUS 掃描式電子顯微鏡

SNE-4500M PLUS 包含五軸(X,Y,Z,R,T)全自動載台,並搭配光學導航,可快速移動樣品,
進行表面/載面分析並可搭配EDS,進行成份分析。放大倍數最大可達150,000倍。
SEC提供了高品質,高效率的SEM,讓您輕鬆進入微(奈)米的世界!

SNE-3200M 掃描式電子顯微鏡

考慮多種SEM圖像分析,搭載兩個接收器為基本配置,根據樣品的不同特性獲取多種結果,並且搭載High/Low Vacuum mode,在低真空模式下對生物及非導電體樣品,即使不鍍金也可以進行分析(支援Charge-up Reduction mode)
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BRUKER EDS System

安裝在SEM(電子顯微鏡)上對樣品表面成份分析的設備,主要利用電子束所激發的特性X光來進行待測樣品的定性或定量化學成份分析。