• SNE-3200M 掃描式電子顯微鏡
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SEC SNE-3200M

SNE-3200M 掃描式電子顯微鏡

考慮多種SEM圖像分析,搭載兩個接收器為基本配置,根據樣品的不同特性獲取多種結果,並且搭載High/Low Vacuum mode,在低真空模式下對生物及非導電體樣品,即使不鍍金也可以進行分析(支援Charge-up Reduction mode)
SEC提供了高品質,高效率的SEM,讓您輕鬆進入微(奈)米的世界!
  • 放大倍率 : 60,000X
  • 手動三軸(X、Y、R=360度旋轉載台)
  • 加速電壓 : 高真空與低真空模式
  • 搭配二次電子與背散射電子
  • 提供高真空與低真空模式

 

3軸結構能夠簡易移動樣品位置,滑鼠控制與操作方便。

且具備同時顯示SE/BSE圖像的Dual View 模式,觀察樣品的影像時可同步儲存。

SE(Secondary Electron)-二次電子

以樣品表面形態構成影像,常應用於觀察表面形態為主的構成整體影響技術

BSE(Backscattered Electron)-反向散射(反射)電子

根據組成樣品的成分(原子序數)來形成影像.