X-Ray 非破壞式穿透檢查機

Jing Teng Tech Limited Company
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X-eye 5100 Series 非破壞式穿透檢查機

X-eye 5100 Series為標準型X-Ray檢測設備,專門檢測半導體SMT及電子/電池零件,非破壞分析設備。且具備生產檢查SMT及電子/電池零件的S/W。多樣的便利功能容易使用。

X-eye SF160 Series 非破壞式穿透檢查機

X-eye SF160 Series為研究分析用X-Ray CT檢測設備,具備2D & 3D Micro CT System與Micro-Open Tube, 以Dual CT功能體現最高的CT影像/提供高速掃描。

X-eye 6300 非破壞式穿透檢查機

高速3D線上檢查系統(〜4.3秒/ FOV)
雙面PCB的最佳解決方案
混合管可使用(10,000小時/單絲)