• 鍍層測厚儀XAD系列

鍍層測厚儀XAD系列

全系標配SPIN或SDD大面積探測器 最小膜厚測量面積可達0.008mm , 高階機型可選配ROHS測試功能

全系標配SPIN或SDD大面積探測器 

最小膜厚測量面積可達0.008mm , 

高階機型可選配ROHS測試功能