1061 SEM ION Milling 氬離子束樣品前處理設備
對於許多先進的材料，通過SEM進行分析是快速研究材料結構和性能的理想技術。
Fischione Instruments的Model 1061 SEM ION Milling是一款出色的離子束裝備，
可用於創建SEM成像和分析所需的樣品表面特性。
Fischione Instruments的Model 1061 SEM ION Milling是一款出色的離子束裝備，
可用於創建SEM成像和分析所需的樣品表面特性。
Ion milling (surface cleaning) and EBSD sample preparation
(平面研磨、拋光)
樣品載台自動高度偵測(eucentric point)
離子束剖面研磨(Cross-Section polishing)
精準的對位系統(Cross-section station)
簡易的操作介面
專利電磁聚焦離子槍設計
可獨立分別調整能量和拋光角度的雙離子槍
橫截面拋光和平面拋光兩機一體
超寬加速電壓範圍（最高10keV）拋光效率高
最低100eV，修復後近乎無損
單鍵全自動化操作，操作參數可儲存
配備液氮冷台（可持續製冷超過18小時）去除熱損傷
操作簡易，維護方便
