• 1061 SEM ION Milling 氬離子束樣品前處理設備
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1061 SEM ION Milling 氬離子束樣品前處理設備

對於許多先進的材料,通過SEM進行分析是快速研究材料結構和性能的理想技術。
Fischione Instruments的Model 1061 SEM ION Milling是一款出色的離子束裝備,
可用於創建SEM成像和分析所需的樣品表面特性。

專利電磁聚焦離子槍設計

可獨立分別調整能量和拋光角度的雙離子槍

橫截面拋光和平面拋光兩機一體

超寬加速電壓範圍(最高10keV)拋光效率高

最低100eV,修復後近乎無損

單鍵全自動化操作,操作參數可儲存

配備液氮冷台(可持續製冷超過18小時)去除熱損傷

操作簡易,維護方便




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樣品載台自動高度偵測(eucentric point)

離子束剖面研磨(Cross-Section polishing)

精準的對位系統(Cross-section station)

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簡易的操作介面

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Ion milling (surface cleaning) and EBSD sample preparation

 (平面研磨、拋光)

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