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鍍層測厚儀
鍍層測厚儀
Jing Teng Tech Limited Company
顯示模式:
多導毛細管聚焦光譜儀XTD-200 PCF
型號 : XTD-200 PCF
運用先進的技術進行基礎開發設計,
緊湊型結構設計,X射線管、樣品、探測器之間更加精細緊密,大大提高信號強度。
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XTU系列測厚儀雖然結構緊湊,但是都有大容量的開槽設計樣品腔,即使超過樣品腔尺寸的工件也可以測試。
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