• 鍍層膜厚計 XTU系列

鍍層膜厚計 XTU系列

XTU系列測厚儀雖然結構緊湊,但是都有大容量的開槽設計樣品腔,即使超過樣品腔尺寸的工件也可以測試。

搭配微聚焦加強型X射線發生器和先進的光路轉換聚焦系統,

以及高敏變焦測距裝置,可測試極微小和異形樣品。   

檢測各種金屬及非金屬鍍層 · 0.005um檢出限 · 實際最小測量面積0.002mm² · 凹槽深度測量範圍可達0mm至30mm。  

 外置的高精密微型滑軌,可以快速控制樣品移動,移動精度0.005mm,速度10-30mm(X-Y)/圈,再小再多的樣品測試都可輕鬆操作。


電鍍液測試附件:

整套含兩個測量杯和一卷測試膜。

可用於多品牌X-RAY測厚儀上使用,高純元素本底,提高測量精度和檢出限。

電鍍液測試樣品杯,嚴格控制了容量和溢出物的處理,用來測試藥水溶液中金屬離子的濃度,使用方便簡捷,無污染。

 

儀器配置:

  • 微焦X射線發生器
  • 光路轉換聚焦系統
  • 高敏變焦測距裝置
  • 高效率正比接收器
  • 先進的信號放大器
  • 高精度微型移動滑軌
  • 標準片Ni/Fe 5um
  • 標準片Au/Ni/Cu 0.1um/2um


配件箱:

其中包括儀器相關配線,密碼狗,十二元素片,Ni/Fe 5um,Au/Ni/Cu 0.1um/2um網圈等!

測厚儀標準片:

校正片,又稱標準箔,膜厚片,通用於所有X射線鍍層測厚儀(Elite、Fischer、

Oxford(CMI)Thermo、Veeco、Micro Pioneer 、天瑞、華唯計量等),

本公司標準片規格齊全,可送檢協力廠商出具CNAS證書,為儀器精准測試保駕護航,歡迎來電諮詢。


技術參數:

  • 元素分析範圍:氯(Cl)~鈾(U)
  • 厚度分析範圍:各種元素及有機物
  • 一次性同時分析:23層鍍層,24種元素
  • 厚度最低檢出限:0.005um
  • 最小測量面積:0.002mm²(多種准直器可選
  • 對焦距離:0-90mm(測試凹槽,可變焦)
  • 樣品腔尺寸:500mm×360mm×215mm
  • C型設計,允許測試超出樣品腔板裝物體
  • 儀器尺寸:550mm×480mm×470mm
  • 儀器重量:45kg



性能優勢:

  • 下照式設計:可以快速方便地定位對焦樣品。
  • 變焦裝置演算法:可對各種異形凹槽進行檢測,凹槽深度可達0-30mm。
  • 高精密微型移動滑軌:快速精准定位樣品。
  • 微焦X射線裝置:檢測面積可小於0.002mm²的樣品,可測試各微小的部件。
  • 高效率正比接收器:即使測試0.01mm²以下的樣品,幾秒鐘也能達到穩定性。
  • 先進EFP演算法軟體:多層多元素,包括有同種元素在不同塗鍍層的檢測,都可快,准,穩的做出資料分析。


應用領域

  • 手錶、精密儀錶製造行業 ·電鍍液的金屬陽離子檢測 
  • 釹鐵硼磁鐵上的Ni/Cu/Ni/FeNdB 
  • 衛浴產品裝飾把手上Cr/Ni/Cu/CuZn(ABS)·線路板
  • 引線框架以及電子元器件接外掛程式檢測·
  • 汽車、五金、電子產品等其他緊固件的表面處理檢測·
  • 鍍純金、K金、鉑、銀等各種飾品的膜層成分和厚度分析