TEM載網（銅網／金網／鎳網）介紹

TEM Grid材質選擇指南｜提升穿透式電子顯微鏡分析品質的關鍵

在穿透式電子顯微鏡（TEM，Transmission Electron Microscope）分析中，

TEM載網(TEM Grid)
是承載樣品的重要耗材，直接影響樣品穩定性、影像品質與元素分析結果。

不同材質的TEM載網具有不同的導電性、背景干擾、機械強度與適用情境。
常見材質包括：

• 銅網（Copper Grid）
• 金網（Gold Grid）
• 鎳網（Nickel Grid）

選擇適合的TEM載網，可有效提升奈米材料、生物樣品與薄膜分析的觀測品質與可靠性。

TEM載網是什麼？

TEM載網是一種直徑通常為 3.05 mm 的金屬網格，
用於支撐超薄樣品，使電子束能穿透樣品並形成高解析影像。

常見TEM載網會搭配：

• Formvar高分子支撐膜
• 超薄碳膜（Carbon Film）

以增加樣品穩定性與導電效果。

網格尺寸（Mesh）代表每英吋的網格數

規格包括：

• 100 Mesh
• 200 Mesh
• 300 Mesh
• 400 Mesh

其中200、300 Mesh為最常見的通用規格。

TEM載網材質比較

銅網（Copper Grid）

銅網是目前最普遍使用的TEM載網材質，具有良好的導電性與成本優勢。

特點

• 成本較低
• 導電性佳
• 適合一般TEM觀察
• 可搭配Formvar碳膜使用

適用領域

• 生物樣品
• 材料科學
• 高分子材料
• 一般奈米分析

注意事項

若進行EDS元素分析時包含銅元素，可能產生背景干擾。

金網（Gold Grid）

金網具備優異的化學穩定性與低背景干擾，適合高解析與高精度分析。

特點

• 導電與導熱性極佳
• 背景雜訊低
• 抗氧化能力佳
• 適合高解析影像

適用領域

• 奈米材料
• 奈米顆粒
• 高解析TEM分析
• Sensitive樣品觀測

注意事項

成本較高，若分析金元素樣品需避免使用。

鎳網（Nickel Grid）

鎳網具有較高的機械強度與耐用性，適合需要強支撐性的應用。

特點

• 結構強度高
• 不易變形
• 適合長時間操作
• 可承受較高負載樣品

適用領域

• 較厚樣品
• 高支撐需求樣品
• 避免銅元素干擾之EDS分析

注意事項

若分析鎳元素樣品，需避免使用鎳網。

TEM載網材質比較表

如何選擇適合的TEM載網？

選擇TEM載網時，建議考量以下因素：

■ 樣品元素組成

避免載網材質與分析元素重複，降低EDS背景干擾。

■ 影像解析需求

高解析觀測建議使用金網或鍍碳支撐膜。

■ 樣品重量與支撐性

較厚或易變形樣品，可選擇鎳網提高穩定性。

■ 預算與使用頻率

一般日常分析多使用鍍碳銅網，兼具成本與性能平衡。

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TEM鍍碳載網的優勢

目前最常見的TEM載網為鍍碳銅網，透過Formvar高分子膜與碳膜結構，

可提升：

• 導電性
• 導熱性
• 電子束穩定性
• 支撐強度

並有效降低荷電效應（Charging Effect）與樣品漂移問題。

TEM載網雖然體積微小，卻是影響電子顯微鏡分析品質的重要關鍵。
無論是一般材料分析、高解析奈米觀測或EDS元素分析，
選擇適合的載網材質，都能有效提升TEM觀測穩定性與影像品質。

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